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橢圓偏振光測量儀FE5000
介紹: 通過自動多角度橢圓偏振光測量儀實現(xiàn)高速的薄膜膜厚測量和高精度的光學常數(shù)解析品牌: 日本 大塚電子型號: FE5000 -

OPTM 半導(dǎo)體膜厚測試儀
介紹: 測量目標膜的絕對反射率,實現(xiàn)高精度膜厚和光學常數(shù)測試! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚電子型號: optm

































































































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